Question

X-റേ ഡിഫ്രാക്ഷൻ (XRD) വഴി ഒരു സാമ്പിൾ 'ക്രിസ്റ്റലൈൻ' (crystalline) ആണോ 'അമോർഫസ്' (amorphous) ആണോ എന്ന് എങ്ങനെ തിരിച്ചറിയാം?

• A. ക്രിസ്റ്റലൈൻ സാമ്പിളുകൾക്ക് മൂർച്ചയുള്ള പീക്കുകൾ ഉണ്ടാകും, അമോർഫസ് സാമ്പിളുകൾക്ക് വിശാലമായ കുന്നുകൾ (broad humps) ഉണ്ടാകും.
• B. ക്രിസ്റ്റലൈൻ സാമ്പിളുകൾക്ക് കുന്നുകൾ ഉണ്ടാകും, അമോർഫസ് സാമ്പിളുകൾക്ക് മൂർച്ചയുള്ള പീക്കുകൾ ഉണ്ടാകും.
• C. രണ്ട് സാമ്പിളുകൾക്കും ഒരേ പാറ്റേൺ ആയിരിക്കും.
• D. XRD വഴി ഇത് തിരിച്ചറിയാൻ കഴിയില്ല.

Answer 1

Answer:

A. ക്രിസ്റ്റലൈൻ സാമ്പിളുകൾക്ക് മൂർച്ചയുള്ള പീക്കുകൾ ഉണ്ടാകും, അമോർഫസ് സാമ്പിളുകൾക്ക് വിശാലമായ കുന്നുകൾ (broad humps) ഉണ്ടാകും.

• ക്രിസ്റ്റലൈൻ സാമ്പിളുകൾക്ക് ആറ്റങ്ങളുടെ ക്രമമായ ഘടനയുള്ളതിനാൽ, X-റേ വിഭംഗനം മൂർച്ചയുള്ളതും വ്യക്തവുമായ പീക്കുകൾ നൽകുന്നു. എന്നാൽ അമോർഫസ് സാമ്പിളുകൾക്ക് ക്രമമായ ഘടന ഇല്ലാത്തതിനാൽ, അവയ്ക്ക് വ്യക്തമായ ഡിഫ്രാക്ഷൻ പീക്കുകൾക്ക് പകരം വിശാലമായ കുന്നുകളോ (broad humps) യാതൊരു പാറ്റേണോ ലഭിക്കില്ല.