Question

'ഡിഫ്യൂസ് റിഫ്ലക്ഷൻ' (Diffuse Reflection) വഴി പ്രകാശം പ്രതിഫലിക്കുന്ന ഒരു ഉപരിതലത്തിന്റെ 'ടെക്സ്ചർ' (Texture) അളക്കാൻ ചിലപ്പോൾ എന്ത് തരം സ്റ്റാറ്റിസ്റ്റിക്കൽ വിശകലനം ഉപയോഗിക്കാം?

• A. ഉപരിതലത്തിലെ താപനില മാത്രം.
• B. ഉപരിതലത്തിന്റെ മൈക്രോസ്കോപ്പിക് ഉയര വ്യതിയാനങ്ങളുടെ സ്റ്റാറ്റിസ്റ്റിക്കൽ വിതരണം.
• C. ഉപരിതലത്തിലെ വർണ്ണം മാത്രം.
• D. ഉപരിതലത്തിന്റെ ആഗിരണ ശേഷി.

Answer 1

Answer:

B. ഉപരിതലത്തിന്റെ മൈക്രോസ്കോപ്പിക് ഉയര വ്യതിയാനങ്ങളുടെ സ്റ്റാറ്റിസ്റ്റിക്കൽ വിതരണം.

• ഒരു ഉപരിതലം ഡിഫ്യൂസ് റിഫ്ലക്ഷൻ കാണിക്കുന്നത് അതിന്റെ മൈക്രോസ്കോപ്പിക് തലത്തിലുള്ള പരുപരുത്തത (roughness) കാരണമാണ്. ഈ പരുപരുത്തതയെ ഉപരിതലത്തിലെ മൈക്രോസ്കോപ്പിക് ഉയര വ്യതിയാനങ്ങളുടെ സ്റ്റാറ്റിസ്റ്റിക്കൽ വിതരണം (ഉദാഹരണത്തിന്, റൂട്ട് മീൻ സ്ക്വയർ (RMS) റഫ്നെസ്, ഗൗസിയൻ വിതരണം) ഉപയോഗിച്ച് വിവരിക്കാൻ കഴിയും. പ്രകാശത്തിന്റെ പ്രതിഫലന പാറ്റേൺ ഈ ഉപരിതല ടെക്സ്ചറിന്റെ സ്റ്റാറ്റിസ്റ്റിക്കൽ സ്വഭാവവുമായി നേരിട്ട് ബന്ധപ്പെട്ടിരിക്കുന്നു.